在要求采樣率低于 10 MSPS 的應(yīng)用中,最常見的模數(shù)轉(zhuǎn)換器之一是SAR ADC。該 ADC 非常適合需要 8-16 位分辨率的應(yīng)用。有關(guān)分辨率和采樣率的更多信息,請參閱本系列文章的第一篇:解密分辨率和采樣率。SAR ADC 是最容易理解的模數(shù)轉(zhuǎn)換器之一,一旦我們知道這種類型的 ADC 的工作原理,它的優(yōu)缺點就很明顯了。

基本逐次逼近寄存器模數(shù)轉(zhuǎn)換器如下圖所示:

? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?
SAR ADC 為每個樣本執(zhí)行以下操作:? ? ? ? ??
模擬信號被采樣并保持。? ? ? ? ? ?
對于每一位,SAR 邏輯向 DAC 輸出一個二進制代碼,該代碼取決于正在審查的當(dāng)前位和已經(jīng)近似的先前位。比較器用于確定當(dāng)前位的狀態(tài)。? ? ? ? ? ? ? ? ? ??
逼近所有位后,將在轉(zhuǎn)換結(jié)束 (EOC) 時輸出數(shù)字逼近。
SAR 操作最好解釋為二分搜索算法。考慮下面顯示的代碼。在此代碼中,正在審查的當(dāng)前位設(shè)置為 1。由此產(chǎn)生的二進制代碼輸出到 DAC。這與模擬輸入進行比較。如果從模擬輸入中減去 DAC 輸出的結(jié)果小于 0,則審查位設(shè)置為 0。
%8?bit digital output is all zeros
digital output = zeros(1,8);
%Normalised to one for example
reference voltage = 1;
for i=1:8
%current output bit set to 1:
digital output(i)=1;
compare threshold = 0;
%Output digital output in current form to DAC:
for j=1:i
compare threshold = compare threshold+digital output(j)*reference voltage/(2?j);
end
%Comparator compares analog input to DAC output:
if (input voltage?compare threshold<0)
digital output(i)= 0;
end
end
如果我們考慮 0.425 V 的模擬輸入值和 1 V 的參考電壓的示例,我們可以將 8 位 ADC 的輸出近似如下:
將 8 位輸出的第一位設(shè)置為 1,因此輸出到 DAC 為 0.5
0.425 減去 0.5 小于 0,所以將輸出的第一位設(shè)置為 0
將 8 位輸出的第二位設(shè)置為 1,因此輸出到 DAC 為 0.25
0.425 減去 0.25 大于 0,所以輸出的第二位是 1
將 8 位輸出的第三位設(shè)置為 1,因此輸出到 DAC 為 0.375
0.425 減去 0.375 大于 0,所以輸出的第三位是 1
對所有 8 位重復(fù)此過程,直到確定輸出為:
01101100
從這個過程中可以明顯看出,N 位 SAR ADC 必須需要 N 個時鐘周期才能成功逼近輸出。因此,盡管這些 ADC 功耗低且需要的空間很小,但它們不適合高速、高分辨率應(yīng)用。由于這些 ADC 需要的空間非常小,因此它們通常被用作微控制器內(nèi)部的外設(shè)或采用極小的封裝。
功耗與采樣率成比例的事實可能不太直觀。因此,這些 ADC 非常適用于需要 ADC 不經(jīng)常進行采樣的低功耗應(yīng)用。
在此架構(gòu)中需要注意的一件事是缺少管道以及與此相關(guān)的延遲。因此,SAR ADC 適用于多路復(fù)用應(yīng)用。
定義 ADC 整體特性的 ADC 的兩個特性并不奇怪,DAC 和比較器。

電容式 DAC 包含 N 個電容器,用于 N 位分辨率,并添加了第二個最低有效位電容器。電容式 DAC 的示例如下所示:

在采集過程中,公共端通過關(guān)閉 S11 接地,模擬輸入 (Ain) 對電容器進行充電和放電。如果通過打開 S1 斷開輸入,則會出現(xiàn)保持模式。然后打開 S11,將公共端驅(qū)動到-Ain。如果 S2 然后連接到 Vref,則等于 Vref/2 的電壓被添加到 -Ain。在此之后確定關(guān)于最高有效位的決定。
容性 DAC 的最大穩(wěn)定時間由最高有效位的穩(wěn)定時間決定。這是因為 DAC 輸出的最大變化發(fā)生在這個最高有效位上。
您可能會認為 16 位 SAR ADC 產(chǎn)生輸出所需的時間是 8 位 SAR ADC 的兩倍,因為輸出位是其兩倍。實際上,16 位 SAR ADC 中內(nèi)部 DAC 的建立時間比 8 位版本的建立時間要長得多。因此,與低分辨率版本相比,高分辨率 SAR ADC 的采樣率顯著降低。
整個 ADC 的線性度取決于內(nèi)部 DAC 的線性度。因此,ADC 分辨率受到內(nèi)部 DAC 分辨率的限制也就不足為奇了。

比較器需要既準確又快速。與 DAC 一樣,比較器必須具有至少與 SAR ADC 一樣好的分辨率也就不足為奇了。與比較器相關(guān)的噪聲必須小于 SAR ADC 的最低有效位。

總結(jié)
低功耗
體型小
高分辨率的低采樣率
由于 DAC 和比較器的限制,分辨率有限
大小隨位數(shù)增加? ? ? ? ? ? ?
非常適合采樣頻率低于 10 MHz 且分辨率在 8-16 位之間的多通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
從基礎(chǔ)到高級的ADC講座,將涵蓋高速ADC設(shè)計的原理、傳統(tǒng)架構(gòu)和最先進的設(shè)計。第一部分首先回顧了ADC的基本知識,包括采樣、開關(guān)電容和量化理論。接下來,介紹了經(jīng)典ADC架構(gòu)的基礎(chǔ)和設(shè)計實例,如閃存、SAR和流水線ADC。然后,本教程將對混合型ADC架構(gòu)進行總體概述,這就結(jié)束了第一部分。在第二部分,首先描述了ADC的度量。然后,介紹混合或非混合架構(gòu)的各種先進設(shè)計。該教程最后將以數(shù)字輔助解決技術(shù)結(jié)束。
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