覆蓋全互連生命周期的真實環境誤碼性能驗證，以降低風險、節約成本并確保組件、子組件及完整線纜組件的可靠性
是德科技（NYSE：KEYS）近日推出功能性互聯測試解決方案FITS-8CH多通道誤碼儀。FITS-8CH 提供用于網絡設備和生產網絡基礎設施的高速光學與銅互連誤碼率（BER）以及前向糾錯（FEC）性能驗證。
隨著互連速度不斷提升且設計日益復雜，芯片、光學和銅互連以及網絡設備制造商面臨越來越大的壓力，需要在產品進入大規模生產前以及整個制造過程中確保可靠性。傳統的物理層測試工具在驗證電氣通道是否符合行業規范方面發揮了重要作用，為建立堅實的一致性基準提供支持。在此基礎上，系統級驗證可進一步洞察全互連及子組件在實際環境中的性能，包括誤碼行為。
只有對所有電氣或光學通道進行高速誤碼性能驗證，才能準確評估真實系統條件。如果缺乏此類測試，將增加生產延遲或現場故障的風險。這包括驗證支撐當前 400GE、800GE 和 1.6T 以太網網絡架構的高速 PAM4 電氣通道在 53 Gb/s、106 Gb/s 和 212 Gb/s 下的誤碼性能。
FITS-8CH 通過提供多通道誤碼性能驗證，解決了系統級誤碼性能檢測的缺口，支持所有相關電氣通道速度下的 PAM4 誤碼性能評估，超越物理層測量能力，實現從設計、開發到制造的可靠驗證，以便在大規模網絡部署中使用。該機箱還可與 Keysight 的物理層測試解決方案集成，擴展了可支持的應用和拓撲類型。
FITS-8CH 以可靠性、可擴展性和制造就緒性為設計基礎，能夠滿足當前網絡測試的需求。在這些應用中，即便是微小的誤碼性能問題也可能對大規模部署產生影響。其主要優勢包括：
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多通道 BER 和 FEC 驗證：支持八個發射和八個接收通道的雙向實時測試，支持PAM4 信號速率從 53 Gb/s 到 212.5 Gb/s。使用 BER 和 FEC 測試系統級誤碼性能，可驗證完整光學和銅互連組件，而不僅是關鍵階段的獨立測量。適用于研發、產品開發、生產測試、終端測試及系統級驗證，幫助制造商自信地將驗證通過的預生產設計投放大規模生產，并在真實操作條件下驗證可靠性。
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靈活的通道架構：兩組互補通道：高驅動輸出和芯片到模塊（C2M）接口，支持更廣泛的電氣夾具和互連拓撲，提供更大靈活性，可支持多種電氣夾具、以太網互連、有源線纜及硅拓撲，而無需重新設計測試設置或降低信號完整性。
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高質量信號生成：符合 IEEE P802.3dj 標準，即使在復雜條件下也能提供優異信號完整性。為所有支持通道速率提供準確的 BER 和 FEC 測量所需的干凈、可控的發射信號，可基于真實設備或互連的行為評估誤碼性能，而非測試環境限制。
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自動通道調優：按通道優化 PAM4 信號輸出，自動調整發射 tap 設置，打開每個通道的電眼，提高測量一致性和可重復性，降低因邊緣或臨界誤碼性能組件通過測試而帶來的風險。
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提前發現制造和配置問題：可在在制或終端測試過程中識別機械錯位、熱故障、數字信號處理器（DSP）tap 設置不優化或錯誤等問題，降低有缺陷產品流向客戶的風險及成本。
Keysight 已于 2026 年 3 月 17-19 日 OFC 大會（洛杉磯會議中心南館，展位 #1300）展示 FITS 及其他網絡驗證解決方案。
