據麥姆斯咨詢報道，2026年7月24日至7月26日，東南大學副教授王磊將參加《第81期“見微知著”培訓課程：光學MEMS技術及應用》并進行授課，具體信息如下：
授課主題：光學MEMS器件可靠性分析
授課老師簡介：
王磊，博士，2012年獲東南大學電子科學與工程學院工學博士，現任東南大學副教授。他長期從事MEMS器件可靠性研究工作，近五年承擔了多項國家科研項目，包括4項可靠性相關國家重點研發計劃課題，以及多項企業橫向合作項目。他主持制定了多項企業MEMS可靠性標準，以及國內首部MEMS可靠性國家標準（GB/T 38341-2019“微機電系統（MEMS）技術MEMS器件的可靠性綜合環境試驗方法”），并于2026年主持開展了該項國家標準的修訂工作。
授課背景及內容：
光學MEMS器件可靠性是決定其產業化成功與否的核心因素，科學的評價體系與分析手段是識別、定位及預防器件失效的工程基礎。由于光學MEMS器件同時涉及力學、光學、電學和材料學等多個科學領域，因此其可靠性問題遠比傳統IC器件復雜，失效機理涵蓋機械疲勞、結構蠕變、殘余應力釋放、接觸粘附、電荷俘獲、電學擊穿、材料退化、光學損傷、環境影響和封裝失效等眾多方面。提升光學MEMS器件的可靠性必須貫穿于“設計-制造-封裝-測試-應用”的全生命周期。本課程詳解光學MEMS器件失效機理、工程分析與可靠性評價，并以MEMS微鏡為例闡述失效問題，給出可靠性策略建議。
制造工藝對光學MEMS微鏡扭轉梁初始強度的影響
課程提綱：
1. 光學MEMS器件失效機理；
2. 光學MEMS器件工程分析與可靠性評價；
3. 光學MEMS微鏡失效案例簡析；
4. 光學MEMS器件可靠性策略建議。
培訓詳情：
https://www.memstraining.com/training-81.html
《光學MEMS產業現狀-2026版》
《光學MEMS器件對比分析-2026版》
《德州儀器汽車級MEMS數字微鏡器件DLP5531產品分析》
《MEMS產業現狀-2026版》
