Saniffer(www.saniffer.com)?公司已邀請意大利NplusT公司CEO， Tamas Kerekes于本周六晚進行1.5小時的最新技術的NAND特性測試和分析Webinar，本次的主題是：面向SSD開發的NAND特性分析。本次講座也涉及ONFI 5.0，BGA154, 2.0GT/2.4GT等相關內容。
該技術講座對于從事NAND特性分析和LDPC算法優化的工程師比較有幫助，對于高校、科研院所從事各類新型存儲技術的研究和開發也有借鑒意義，同時對于從事產線測試或者篩選測試也有一定的幫助。
感興趣的朋友請提前通過公司郵箱點擊本文左下角的“閱讀原文”注冊報名，本次活動將提供100個Zoom會議名額，建議提前15分鐘通過電腦或者手機接入Zoom接入會議系統。我們將在周五統一將Zoom會議ID和接入密碼發給注冊各位的郵箱，無法及時收取郵件的請聯系13127856862電話或者微信獲取相關信息。
講座時間：3/19（周六）20:00 ~ 21:30 北京時間。
大家也可以提前訪問下面的鏈接下載《PCIe Gen 4&5總線協議分析和SSD測試工具白皮書Ver 6.20》文檔，其中第7.1章節有詳細的關于NAND特性分析生成的各種特性圖譜的示例。
https://www.saniffer.com/中文/文檔下載/
下面是本次技術講座的相關內容簡介。
NAND是SSD中的存儲介質，就像磁盤于HDD一樣。
與 HDD 磁盤一樣，NAND 也是一種“不完美”的介質，會產生數據錯誤從而需要對于讀取錯誤機型糾正。NAND 介質的不同之處和挑戰在于，錯誤會隨著時間增加，包括 NAND 磨損、多次讀取相同數據、超過數據保留時間，以及在不同溫度條件下。
隨著 TLC，QLC以及未來 PLC 的每個單元的位數增加，“缺陷”的影響隨著 3D-NAND 的代際更迭變得越來越具有挑戰性。
同時，更高的性能、更高的速度、更高的功率和電流尖峰(Spike)進一步挑戰了 NAND 信號和電源的完整性。
設計高性能、高容量、高可靠性的 SSD，了解和解決所有這些方面的問題對于交付在整個生命周期內滿足可靠性、數據完整性和性能一致性的產品至關重要。
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在和最終應用將要運行的相同條件下，適當的 NAND 特性分析對于以下方面的設計和驗證至關重要：
? NAND 管理算法通常稱為“NAND 策略”；
? SSD 控制器糾錯 (LDPC)；
? SSD 信號和電源完整性。
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需要特別注意的 NAND特性分析的關鍵是：
? 閃存Cell Vt 分布重疊，導致內存數據讀取錯誤增加；
? 編程/擦除周期、讀操作干擾、數據保留時間、溫度條件下的Vt分布變化；
? 影響正常 NAND 功能和數據完整性的電流尖峰(Spike)；
? 來自時序、端接、驅動強度、PCB 布局的 I/O 信號完整性；
? 閃存Cell在生命周期內的退化導致的硬故障。
Vt 分布的重疊尾部（TLC 為 7，QLC 為 15）是讀取錯誤的根源。當太多單元位于讀取閾值的錯誤一側時，大量錯誤讀取的位需要極大的努力才能執行糾錯，或者甚至超出 SSD本身的 糾錯能力。
在與最終應用類似的操作條件下對于Vt 分布的特性分析，隨著使用壽命、磨損、數據保留時間、讀取干擾、溫度等方面，對于了解錯誤行為、設計讀取級別放置的策略和算法以及設計和調整 SSD 糾錯 (LDPC)的至關重要。了解這些特性如何變化，以及 SSD 控制器的跟蹤/預測策略和糾錯系統，對于提供高數據可靠性、穩定的性能和良好的 QoS（SSD 存儲應用程序的關鍵參數）非常關鍵。
SSD 容量和速度增加帶來的第二個挑戰是確保電源和信號完整性。NAND 編程、擦除和讀取內部操作會產生比平均電流值高幾倍的電流尖峰。多個 NAND 裸片的并行和同步操作，通常在多（8 到 16 個及更多）SDD 閃存通道中會導致 SSD 級別的極端電流尖峰。
了解 NAND 時序和電流分布對于設計、仿真、調整大小、校準電源調節器以及制定策略來限制和避免這些電流尖峰的對齊至關重要。
除了電源完整性之外，SSD 設計還必須處理信號完整性：由于 I/O 數據走線在超過 1GT/s 數據速率時變成傳輸線，因此 PCB 設計必須越來越準確，并且需要特定的培訓和校準程序來設置NAND 和 SSD 控制器 I/O 參數。
提供可靠結果的高效特性分析需要強大的測試環境。NanoCycler 是一個專門為 NAND 特性分析而創建的測試系統，支持 SSD 開發人員進行 NAND 探索。NanoCycler支持如下功能：
? 能夠針對每個NAND Socket運行獨立的測試，優化多個測試條件下的統計數據生成；
? 具有根據每個測試Socket進行準確、快速的溫度控制；
? 可從單NAND Socket開發測試平臺完全擴展至多個 84 插槽機架；
? 以與NAND 在SSD 中運行相同的速度執行數據傳輸，最高可達2.0GT/sec（即將推出2.4GT/sec）；
? 以零開銷生成寫入和驗證數據，包括“完美”隨機模式；
? 支持從/到被測設備的快速位圖數據傳輸；
? 使用智能濾波算法檢測平均和峰值電流，捕獲電流波形以增加對設備內部操作的可見性；
? 提供內置的、可定制的界面訓練算法，時間分辨率只有幾皮秒ps。
NanoCycler 提供了一個開發環境來提高測試工程師的效率，通過一個測試庫能夠：
? 支持各大廠商的最新設備；
? 在單個LUN 或多個LUN、die、CE、通道上執行操作；
? 使用多種預定義和自定義模式運行由 ONFI 標準定義的命令；
? 接受具有任意信號時序、命令代碼等等的定制、供應商特定命令序列；
? 生成易于后處理的數據日志。
NanoCycler 的專業軟件：
? 為測試執行和高級測試流程定義提供易于使用的圖形用戶界面；
? 配備多個測試系統共享的高效數據采集系統；
? 使用流行的Python 語言實現測試流程和算法；
? 包括調試工具，如可視化信號序列顯示，使故障排除更加容易。
如果沒有可靠的高性能 NAND 特性測試工具，就無法構建可靠的高性能 SSD。
對于需要了解其 NAND 特定特性的 SSD 開發人員來說，NanoCycler 是必不可少的幫助。 NanoCycler 與 ONFI 技術路線圖保持同步，確保此類投資的長期有效性。
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