隨著 AR 近眼顯示（Near-Eye Display，NED）技術不斷向更高分辨率、更高亮度以及更復雜的光學結構發展，顯示質量測量面臨新的挑戰。研發人員不僅需要評估虛像亮度和顏色，還需要對成像清晰度、幾何畸變、色差等關鍵指標進行量化分析，為光學設計優化和顯示性能評估提供測量數據。
針對AR 近眼顯示的測量需求，Instrument Systems 推出 LumiTop X30 AR。這是一款專為 AR 近眼顯示應用開發的高分辨率成像色度計，可用于研發、光學調校、工程驗證及生產測試等多個階段，對顯示亮度、顏色及相關光學性能進行二維測量。圖：LumiTop X30 AR高分辨率成像色度計▋ 面向AR 近眼顯示優化的測量光學設計LumiTop X30 AR 采用符合人眼視覺特性的測量光學設計，可模擬用戶佩戴 AR 眼鏡時的觀察條件，對虛像亮度和顏色進行測量。AR 專用鏡頭采用固定焦距與固定入瞳（1–5 mm）設計，覆蓋0.25m 至無窮遠的測量距離范圍，有助于獲得一致、可重復的測試結果。除標準直筒式鏡頭外，系統還可根據應用需求提供潛望式鏡頭版本，以適應已組裝頭戴式設備等空間受限場景的測量需求。▋ 高分辨率成像支持多項顯示性能評估LumiTop X30 AR 配備 31 MP RGB CMOS 成像相機（6464 × 4852 px），提供最高 150 pixel/degree 的角分辨率，并具有 42° × 32° 的視場角，可覆蓋 AR 近眼顯示關鍵視覺區域。在測量能力上，系統支持以下二維與點測量項目：
二維（2D）測量：亮度、顏色、均勻性、對比度、畸變、MTF（調制傳遞函數）、色差
點測量（Spot）：光譜、亮度、顏色、閃爍
通過上述測量項目，可對亮度分布、顏色一致性、成像質量及幾何特性等指標進行分析，為AR 顯示系統開發和性能驗證提供參考。▋ 光譜增強成像技術提升測量一致性LumiTop X30 AR 基于Instrument Systems LumiTop 光譜增強成像色度計技術，將二維 RGB 成像與參考光譜測量相結合。在一次測量過程中，系統可同步獲取二維亮度和色彩圖像，并結合參考光譜數據，改善亮度和顏色測量的一致性。此外，系統集成高速光電探測器，可用于閃爍及調制光源測試。鏡頭采用接近衍射極限的光學設計，可滿足高分辨率近眼顯示的測量需求。▋ 滿足AR 顯示研發與測試需求LumiTop X30 AR 可應用于 AR 眼鏡及近眼顯示系統的研發、光學調校、工程驗證和生產測試等多個階段。除顯示測量外，Instrument Systems 還提供用于紅外光源測試的測量方案，可支持手勢識別、目標檢測等相關應用；同時提供環境光模擬測試方案，用于評估不同環境光條件下 AR 透視顯示的亮度、顏色及對比度表現。 END 相關閱讀：9月8日，Micro AR眼鏡與Mini LED背光畫質進階分析會見2026年AR眼鏡上半場您的點贊是我們進步的動力！
