據麥姆斯咨詢報道，光電傳感器表征專家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商業標準化的最新型單光子探測器 (SPD, Single Photon Detector) 特性測試分析設備SPD2200。光焱科技整合了所有先進光學與電學系統，提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能，助力客戶加速直接飛行時間（dToF）單光子雪崩二極管（SPAD）產品的開發周期，提升競爭力。
測試分析
SPD2200具備的全光譜性能測試包含：
- 全光譜光譜響應 (SR, Spectral Responsivity)
- 全光譜量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)
- 全光譜光子探測率 (PDP, Photon Detection Probability)
- 暗計數DCR (Dark Count Rate)
- 崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)
在不同電壓下，SPAD光子探測效率的PDE光譜
SPAD的暗計數與偏壓關系圖
SPAD暗計數與崩潰電壓
SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析，包含：
- Jitter
- Afterpulsing probability
- Diffusion tail
- SNR
SPAD的Jitter測量
適用范圍
SPD2200適用各種傳感器測試分析，包含：
- SPAD
- SPD (Single Photon Detector)
- SiPM (Si PhotoMultiplier)
- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)
- dToF Light Sensor
- LiDAR Sensor
- Wafer Level SPAD
關于光焱科技 (Enlitech)
Enlitech成立于2009年，專注于人造模擬光源與光譜分析技術。針對光電傳感器，提供先進、定制化的測量解決方案，致力于提升光電傳感器的性能，促進科技的進步與人類生活的改善。
我們提供多種標準光源與測試分析解決方案，包含：
(1) 航天級圖像傳感器表征分析系統；
(2) CMOS圖像傳感器/CIS相機模塊特性檢測；
(3) 光學屏下指紋識別測試方案；
(4) 晶圓級圖像傳感器測試解決方案；
(5) 單光子探測器的測試解決方案。
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