晶體諧振器電性能參數(shù)介紹

本篇KOAN凱擎小妹將逐一講解無源晶振測試報告中的電性能參數(shù)含義。下圖為KOAN諧振器7050, 8MHz的實測數(shù)據(jù)報告：

• C0靜態(tài)電容：晶體兩引腳之間的電容;?

• C1動態(tài)電容：表征振動能力，兩者與晶片電極面積和頻率大小成正比。

RR動態(tài)等效串聯(lián)電阻(能耗)取決于晶體內(nèi)部摩擦、電極、支架等機(jī)械性振動時的損失，以及周圍環(huán)境條件等的影響損失。

RR與Q值（品質(zhì)因數(shù)）成反比，Q值由生長水晶料品質(zhì)決定，越高，固有頻率越穩(wěn)定。L1動態(tài)等效串聯(lián)電感，表征振動質(zhì)量，與頻率大小成反比。

RL晶體加負(fù)載電容的諧振阻抗。根據(jù)阻抗大小，可以評估振蕩電路設(shè)計振蕩寬限，滿足振蕩電路的振幅條件和激勵功率等級。

晶體的串聯(lián)諧振頻率FR: 晶體本身固有的特性：

負(fù)載頻率(調(diào)制頻差）FL：在某一負(fù)載下的諧振頻率，高于FR。

• 調(diào)整頻率：指常溫25℃和標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載電容條件下的振蕩頻率；

• 調(diào)整頻差：一定負(fù)載電容的晶體頻率公差（加工誤差）。

• TS值是負(fù)載電容每變化1pF時FL的變化量(單位ppm/pF)。

KOAN晶振建議您根據(jù)實際電路頻率高低誤差大小，判斷外接匹配電容多大合適。

• 電流I: 晶體在諧振時，流過晶體的電流值，RR越大電流越小。

• 激勵功率PWR：實際跨在晶體上的功率?？梢愿鶕?jù)其大小評估激勵功率等級和匹配相應(yīng)的限流電阻。

不同激勵功率下的最大與最小阻抗差值。激勵功率變化引起的阻抗變化，由殘留應(yīng)力和制造污染造成，越小越好。

CL是電路中跨接晶體兩端的總的有效電容（晶振外接的匹配電容是其一部分），主要影響負(fù)載諧振頻率和等效負(fù)載諧振電阻，與晶體一起決定振蕩器電路的工作頻率，通過調(diào)整負(fù)載電容，就可以將振蕩器的工作頻率微調(diào)到標(biāo)稱值。晶體小型化發(fā)展導(dǎo)致C0變小，相應(yīng)CL變低。

• Cs為晶體兩個管腳間的寄生電容；

• Cd表示晶體振蕩電路輸出管腳到地的總電容，包括PCB走線電容、芯片管腳寄生電容、外加匹配電容CL2；

• Cg表示晶體振蕩電路輸入管腳到地的總電容，包括PCB走線電容、芯片管腳寄生電容、外加匹配電容CL1。

溫度頻差是在一定溫度變化范圍內(nèi)的的頻率變化量。凱擎小妹建議您選擇KOAN晶振時，可根據(jù)產(chǎn)品使用溫度環(huán)境，和最大頻率變化容忍度，提出質(zhì)量等級要求。

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