矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀術(shù)語表
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
Accurate measurements 精確測量?-?描述一種測量方法的短語，其中被測器件（DUT）以其基本頻率進行表征，通常需要頻域測量。
Active components 有源元件?-?電子電路中執(zhí)行電路基本操作的器件，如放大器、電阻器、電容器和電感器。
Analyzer Module 分析模塊?-?用于控制VNA的硬件。該模塊可以是更大的PNA或MXA模塊化測試系統(tǒng)的一部分。控制器向系統(tǒng)中的其他模塊發(fā)送命令，以將其移動到位、執(zhí)行測量和存儲數(shù)據(jù)。例如，分析器模塊可以包括用于幅度測量的頻譜分析器或用于測量噪聲的動態(tài)范圍分析器。
Antidot arrays 解點陣列?-?一種使用預(yù)失真音調(diào)發(fā)生器陣列在VNA中測量失真的方法。被測器件（DUT）連接到音調(diào)發(fā)生器陣列，音調(diào)發(fā)生器陣列的設(shè)計使得每個音調(diào)發(fā)生器具有相等的振幅但相位相反。一個特殊的參考探針將來自該陣列的信號轉(zhuǎn)換回單端信號。需要矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀來分析成對的單端參考探針輸出，以確定DUT引起的失真。
Aperture 孔徑 -?VNA測量脈沖或脈沖組振幅的時間間隔。您可以將孔徑配置為對稱或不對稱，以便分別捕捉上升和下降邊緣。
C
Complex transmission components 復(fù)雜的傳輸組件（幅度和相位）-?一種用于確定電路中許多傳輸元件的幅度和相位的技術(shù)。DUT被表示為線性網(wǎng)絡(luò)以計算其響應(yīng)。在這種情況下，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）測量可以在不單獨測量每個傳輸組件的振幅或頻率響應(yīng)的情況下進行，從而允許更快速、更容易地分析復(fù)雜電路。
Compression 壓縮 -?一種減小系統(tǒng)或信號動態(tài)范圍的技術(shù)。例如，在電路中，高輸入幅度可能會在信號達(dá)到其最終值之前對其進行削波（失真）。可以使用壓縮器來減少這種失真。結(jié)果是提高了測量的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，這是大輸入信號無法實現(xiàn)的。
Conversion loss 轉(zhuǎn)換損失 -?信號從一種類型轉(zhuǎn)換為另一種類型時的功率損失。例如，當(dāng)在電路中的模擬信號和數(shù)字信號之間進行轉(zhuǎn)換時，在轉(zhuǎn)換過程中總是會損失一些功率。
D
Directional coupler 定向耦合器 -?根據(jù)方向圖將測量信號分成兩個或多個信號的設(shè)備。
Directivity 方向性 -?天線在期望方向上的最大增益與最小增益之比。
Dynamic range 動態(tài)范圍 -?最小可檢測信號功率與最大指定輸入功率（或電壓）之間的比率。動態(tài)范圍還影響振幅精度、噪聲下限和信號衰減測量。需要具有高動態(tài)范圍的儀器來測量具有高精度和低噪聲基底的小信號。
E
Error correction 糾錯 -?糾錯是解決或糾正已傳輸數(shù)據(jù)中錯誤的過程。在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀中，誤差校正用于校正幅度和相位誤差。
F
Ferromagnetic material 鐵磁材料 -?一種材料，表現(xiàn)出對磁場有強烈的積極影響。鐵磁材料用于天線和無線設(shè)備，因為它們能夠支持高幅度電壓擺幅，同時保持低損耗特性。
Few-mode fiber 少模光纖 -?一種特殊類型的光纜，使用極小的孔徑來傳輸光學(xué)數(shù)據(jù)。因其高帶寬和大工作波長而被用于許多應(yīng)用中。
Frequency-dependent 頻率相關(guān) -用于描述電子電路或設(shè)備的一種行為的術(shù)語。例如，如果濾波器的性能取決于工作頻率而變化，則濾波器取決于頻率。
Frequency extenders 頻率擴展器 -?頻率擴展器用于添加或擴展 VNA 的頻率跨度。
Frequency range 頻率范圍 -?可應(yīng)用于網(wǎng)絡(luò)分析儀而不會對性能規(guī)范造成任何限制的總頻率范圍。例如，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA 通常被指定用于 DC 和 18 GHz 之間的測量范圍。
Frequency resolution 頻率分辨率 -?用于指分析儀正確顯示緊密間隔頻率的能力。例如，頻譜分析儀的分辨率約為1/2 Hz。這意味著，2GHz和2.005GHz的兩個信號將被視為一個信號，其讀數(shù)在1.995和2.005GHz之間。
G
Group delay 群延遲 -?一種測試，用于測量信號通過物體、電路或網(wǎng)絡(luò)或圍繞物體、電路和網(wǎng)絡(luò)傳輸所需的時間。它被認(rèn)為是測試和測量行業(yè)中最重要的測量之一，因為它提供了關(guān)于信號在各種類型的測試對象中傳播速度的信息。
H
Holographic mode generation 全息模式生成 -?一種用于創(chuàng)建透射和反射測試設(shè)置的方法，可以使用VNA上可用的透射/反射系數(shù)進行測量。這種類型的設(shè)置使用全息圖案發(fā)生器來分割透射和反射測試信號，以便同時測量透射和反射系數(shù)。
I
IF bandwidth 中頻帶寬 -?可以通過設(shè)備或電路發(fā)送而沒有顯著失真的總頻率范圍。例如，如果發(fā)射機能夠在0和100MHz之間的整個頻率范圍內(nèi)發(fā)送信號而沒有顯著失真，則發(fā)射機被稱為具有100MHz的IF帶寬。
Impedance 阻抗 -?阻抗是用于描述交流（AC）電路中電流流動方向的通用術(shù)語；它結(jié)合了幅度和相位信息。它是一個矢量，大小和相位都是分量。
Incident power 事件功率 -?施加到設(shè)備、電路或網(wǎng)絡(luò)的功率。為了測試設(shè)備或電路，入射功率必須足以測量該設(shè)備或電路。例如，如果使用VNA測試具有已知插入損耗的RF開關(guān)，則施加在該RF開關(guān)端口的入射功率必須足夠大，以便能夠成功測量其插入損耗。
Insertion loss 插入損耗 -?在通過網(wǎng)絡(luò)或設(shè)備或在網(wǎng)絡(luò)或設(shè)備周圍傳輸期間丟失的信號功率量。插入損耗描述了由于反射、阻抗失配和其他因素而導(dǎo)致所有信號功率損失的最壞情況。通常使用帶有跟蹤發(fā)生器的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀對大信號進行測量。
Interferometer 干涉儀 -?一種用于確定物體或電路特性的裝置，它將信號分成兩部分，分別通過物體或電路或圍繞物體或電路發(fā)送信號，然后將它們組合成一個信號。
L
Load reflection coefficient 負(fù)載反射系數(shù) -?用于描述反射功率除以入射功率的比率的術(shù)語。這是可以在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀中用于傳輸和反射測量的許多類型的反射系數(shù)之一。
Logarithmic sweeps 對數(shù)掃描 -?用于測量設(shè)備或系統(tǒng)性能的分析方法。對數(shù)掃描是以某種方式掃描的頻率范圍，通常是線性的。結(jié)果顯示了性能如何隨頻率和/或輸入信號幅度（功率電平）而變化。
Low-dimensional structures 低維結(jié)構(gòu) -?對維度小于三的物體或設(shè)備的描述，這意味著它可以被描述為表面（二維）或線（一維）。例如薄膜和電線。
M
Magnetic field 磁場 -?磁性物體影響其他物體的區(qū)域。磁場是由流過電線、微波信號和產(chǎn)生微波的設(shè)備的電流產(chǎn)生的。
Magnetic force microscopy 磁力顯微鏡 -?一種顯微鏡技術(shù)，可用于研究物體的磁化強度，包括其方向和強度。它通常用于研究磁性結(jié)構(gòu)，如鐵磁體或反鐵磁體。
Magnitude 振幅 -?描述信號強度的標(biāo)量值，通常以電壓或功率測量。電磁場的大小可以由其電或磁組件提供。
Maximum frequency 最大頻率 -?這最高頻率可以使用標(biāo)量矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。這是標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀的關(guān)鍵規(guī)格之一，尤其是在測量具有高自諧振的電感器和電容器等組件時。
Measurement accuracy 測量精度 -?測量量的結(jié)果與真實值或可接受值之間的一致程度。它通常通過一個測試與另一個測試之間的誤差差異來量化，這稱為重復(fù)性。測量精度通常取決于許多因素，包括時間、環(huán)境條件、被測部件的類型等。
Measurement application 測量應(yīng)用程序 -?使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀來確定設(shè)備或電路的特性，并根據(jù)頻率提供這些測量值。例如，射頻和微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以通過在一定頻率范圍內(nèi)進行S參數(shù)測量，用于阻抗、回波損耗和傳輸線分析。
Measurement plane 測量平面 -?矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）中進行測量的虛擬平面。在測量平面的每個點上的測量產(chǎn)生雙端口S參數(shù)，例如反射和透射。
Microwave frequency 微波頻率 -?頻率范圍從300 MHz到300 GHz，包括用于移動電話傳輸?shù)念l率。它是微波網(wǎng)絡(luò)分析儀和射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀使用的頻率范圍。
Mode multiplexer 模式多路復(fù)用器 -?與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀一起使用的射頻設(shè)備，用于從不同的射頻信號或射頻源中選擇單個射頻信號。模式復(fù)用器使儀器能夠測量具有多個端口的設(shè)備的射頻特性，如功率分配器和定向耦合器。
Mode transfer matrix inversion 模式轉(zhuǎn)移矩陣求逆 -?一種標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量技術(shù)，使用專門開發(fā)的模型來計算設(shè)備的阻抗。這種方法被稱為模式轉(zhuǎn)移矩陣反轉(zhuǎn)，因為它涉及反轉(zhuǎn)模式轉(zhuǎn)移矩陣（M），這將設(shè)備的兩個端口處的反射系數(shù)（S11）值與這些端口的阻抗相關(guān)聯(lián)。
N
Noise floor 噪聲下限 -?儀器可檢測的最小信號電平。具有低噪聲本底測量能力的網(wǎng)絡(luò)分析儀可以檢測比具有高噪聲本底能力的網(wǎng)絡(luò)分析器弱得多的信號。這是因為弱信號的測量值可能會受到噪聲的顯著影響，從而降低其精度。噪聲下限通常被指定為最小可檢測功率。
O
Operating frequency 工作頻率 -?網(wǎng)絡(luò)分析儀可用于進行功率測量的頻率范圍。這是選擇網(wǎng)絡(luò)分析儀進行功率測量時的關(guān)鍵規(guī)范之一，尤其是在測量具有高自諧振的電感器和電容器等組件時。
Optical mode transfer matrix 光模轉(zhuǎn)換矩陣 -?一種數(shù)學(xué)模型，它將兩個端口處設(shè)備的s參數(shù)與兩個端口的阻抗聯(lián)系起來。光學(xué)模式轉(zhuǎn)移矩陣用于通過將其反相，然后乘以測量的反射系數(shù)來計算阻抗測量（S21，S12）。
Output signal 輸出信號 -?從射頻源發(fā)送到被測設(shè)備或被測設(shè)備的基本射頻信號。輸出信號可以被調(diào)制以進行調(diào)制的頻率、相位和電平的測量。
P
Passive components 無源元件 -?不包含有源電子電路的一類電氣元件，如二極管和變壓器。它們包括電阻器、電容器、電感器、衰減器和定向耦合器。
Phase noise 相位噪聲?-?RF信號中可能存在的低頻噪聲分量。這有時被稱為“相位抖動”。Rohde Schwarz詞匯表解釋了相位噪聲是由多種不同的現(xiàn)象引起的，如電壓溫度漂移、電阻器熱漂移，甚至電阻器的老化。當(dāng)通過頻譜分析儀設(shè)置進行調(diào)諧時，這些項目會導(dǎo)致噪聲“地板”，或聽到整體“嘶嘶聲”，該設(shè)置允許您查看RF信號。
Phase shift 相移 -?系統(tǒng)中信號的時間位移。兩個信號之間的相移可用于描述信號本身之間的差異或失配，和/或一個信號對另一個信號的影響。
Phase synchronization 相位同步 -?使用被測設(shè)備的兩個單獨端口，用一個或多個矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行相位測量的一種技術(shù)。測量可以基于施加到每個端口的射頻信號之間的絕對或相對相位差。
Phase variation 相位變化 -?射頻信號的相位變化，以度表示。無論網(wǎng)絡(luò)分析儀連接到被測設(shè)備的一個或兩個端口，還是使用絕對或相對測量技術(shù)，進行阻抗測量時必須考慮相位變化。
Power sweeps 功率掃頻 -?網(wǎng)絡(luò)分析儀的一種常見測量技術(shù)。在儀器的工作頻率范圍內(nèi)，通常在許多頻率下對被測設(shè)備的兩個或所有端口進行功率掃頻。其結(jié)果是一條曲線，顯示在每個頻率下提供了多少電壓和電流。
Precision cables 精密電纜 -?用于連接網(wǎng)絡(luò)分析儀和被測組件的電纜，這意味著它們必須具有低損耗并保持相位一致性。它們還需要具有非常高的共模抑制比，以便精確測量差模分量。
R
Raw port parameters 原始端口參數(shù) -?用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量的每個端口的單獨S參數(shù)。然后，使用模式耦合理論將它們轉(zhuǎn)換為總的器件S參數(shù)，從而能夠在不同的頻率下進行導(dǎo)納測量。
Reduced-reflectometer calibration 減反射計校準(zhǔn) -?一種用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行阻抗測量的技術(shù)。用于將一個或多個矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀適配成可產(chǎn)生準(zhǔn)確阻抗測量而不需要昂貴校準(zhǔn)夾具的縮減反射計。
Reference channel 參考通道 -?矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀中提供穩(wěn)定校準(zhǔn)信號的高頻路徑。為了實現(xiàn)準(zhǔn)確的阻抗測量，參考信道路徑的功率必須比被測器件高50 dB。由于使用兩個或多個端口進行測量可以提高它們的精度，因此可以將參考通道路徑與一個或更多個校準(zhǔn)端口組合以實現(xiàn)這一點。
Reference multiline 參考多線 -?一種網(wǎng)絡(luò)分析儀功能，允許用戶在時域內(nèi)的四個不同信號之間輕松切換。具有多個信號也有助于表征被測量的信號是如何相互連接的，或者在解調(diào)輸出中存在什么信號。
Reflection coefficient 反射系數(shù) -?描述射頻信號的多少功率從被測設(shè)備反射。反射系數(shù)可以用電壓或電流來表示，并告訴你入射（正向）和反射（反向）能量之間的比率。它有時被稱為SWR（駐波比）。
Reflection measurements 反射測量 -?用于確定被測器件阻抗的測量值。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以使用兩種技術(shù)之一進行精確的反射測量：絕對技術(shù)和相對技術(shù)。在這兩種情況下，測試設(shè)備上兩個或多個校準(zhǔn)端口的反射都是在不同頻率下測量的。相對測量說明了校準(zhǔn)端口中的相位和振幅差異，以準(zhǔn)確地提供阻抗測量。
Relaxation oscillation frequency 弛豫振蕩頻率 -?描述測量端口參數(shù)時發(fā)生振蕩的最低頻率的值。松弛振蕩是由反射測量誤差引起的，并且可能使精確測量變得困難或不可能獲得。
Residual port parameters 剩余端口參數(shù) -?總設(shè)備S參數(shù)和原始端口參數(shù)測量值之間的差異。隨著矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀噪聲系數(shù)的降低、校準(zhǔn)精度的提高、探頭匹配的改善、源VSWR的降低或源功率的增加，它們變得更小。
Return Loss 回波損耗 -?由于阻抗不匹配而從被測器件反射的功率的量度。回波損耗以分貝（dB）表示，表示在每個反射界面上損失了多少dB。通常，在單個頻率下測量回波損耗，以確定被測器件是否可能被高功率信號損壞。
RF cables 射頻電纜 -?用于連接網(wǎng)絡(luò)分析儀射頻端口的電纜。它們由低損耗、高阻抗同軸電纜制成，可將信號損耗降至最低。
S
S-parameters S參數(shù)?- 通過指定反射信號的幅度和相位，描述射頻信號如何響應(yīng)設(shè)備端口的值。該名稱來源于“散射”的S。S參數(shù)可以以表格或圖形的形式表示，并且是有價值的測量，因為它們可以洞察設(shè)備的整體性能和健康狀況。
S-parameter measurements S參數(shù)測量 -?用于確定射頻輸入/輸出特性、設(shè)備穩(wěn)定性（諧波失真）和效率（回波損耗或噪聲系數(shù)）的測量。它們可以使用絕對技術(shù)或相對技術(shù)制作。
Signal source 信號源 -?產(chǎn)生特定波長電磁能的裝置。信號源可用于測量諸如頻率和幅度的參數(shù)數(shù)據(jù)。用于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的信號源包含校準(zhǔn)的、明確定義的屬性，如噪聲系數(shù)、輸出功率、輸出阻抗和頻率穩(wěn)定性。
Simultaneous measurement 同時測量 -?同時測量設(shè)備上所有端口的反射系數(shù)（S參數(shù)）的行為。該測量使用一個或多個校準(zhǔn)的射頻源進行，這些射頻源在其他矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、測試設(shè)備或被測設(shè)備之間共享時間。這些測量可以使用絕對技術(shù)或相對技術(shù)進行。
Slow sensitivity fluctuations 緩慢的靈敏度波動 -?當(dāng)在被測設(shè)備上進行測量時，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的噪聲系數(shù)可能不是恒定的。相反，它可以作為頻率和溫度的函數(shù)而變化。這種故障被稱為慢靈敏度波動（SSF），通常由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀前端的缺陷組件引起。SSF可能由布線不良、探頭連接不良、連接器臟污甚至校準(zhǔn)波形缺陷或缺失造成。
Smith chart 史密斯圓圖 -?一種圖表，每個軸代表不同的量，用于使用S參數(shù)數(shù)據(jù)以圖形方式計算阻抗。這對于表征元件和電路中的阻抗失配非常有用。在數(shù)字計算機上執(zhí)行復(fù)雜的數(shù)學(xué)運算時，使用史密斯圓圖可以最大限度地減少舍入誤差。史密斯圓圖允許阻抗匹配問題、合成、濾波器設(shè)計和電路分析的組件模型的圖形表示。
Source match 源匹配 -?調(diào)整網(wǎng)絡(luò)分析儀每個輸入端口的電源的方式。由于發(fā)射器和接收器必須使用相同的參考，源匹配校準(zhǔn)確保滿足此要求。在不干擾其他基本條件（如探頭匹配）的情況下，應(yīng)盡量減少源提供的噪聲以外的噪聲貢獻。通常調(diào)整源匹配，以使被測設(shè)備上所有端口的總反射功率和噪聲水平相等。
Standing wave ratio 駐波比 -?沿傳輸線的任何點測量的同一方向傳播的一個波與另一個波的電壓之比。該比值表示為開路或短路值，這取決于它是相對于電流（開路駐波）還是相對于電勢（短路駐波）測量的。
T
Test-set controller 測試集控制器 -?用于測試和編程系統(tǒng)組件的獨立可編程控制器。測試集控制器設(shè)計用于支持各種數(shù)字發(fā)生器和示波器，包括矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。
Trace noise 跡線噪聲 -?矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀所測振幅和相位的隨機波動會受到溫度、濕度和電力線頻率等不同環(huán)境條件的影響。這可能會影響矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行測量的準(zhǔn)確性。
Transmission coefficients 傳輸系數(shù) -?設(shè)備上所有端口的反射系數(shù)的乘積。這是用于表征復(fù)數(shù)阻抗值的一個常見參數(shù)。傳輸系數(shù)通常表示為幅度和相位角或?qū)崱⑻摵头确至俊?/span>
Transmission measurements 傳輸測量 -?在被測設(shè)備的所有頻率下測量傳輸系數(shù)的過程。透射測量通常通過使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行反射系數(shù)測量來進行。反射系數(shù)測量反射信號的幅度和相位角。然后，傳輸系數(shù)提供阻抗匹配的更多細(xì)節(jié)，因為它們提供幅度和相位分量，而不是僅提供幅度的S參數(shù)值。
TRL/LRM calibration TRL/LRM 校準(zhǔn) -?一種校準(zhǔn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的方法，通過在兩個不同的頻率將未知設(shè)備與已知參數(shù)的設(shè)備進行比較。理想情況下，該校準(zhǔn)確定參考裝置和未知裝置之間的線性和非線性（外推）誤差。所得數(shù)據(jù)可以用表表示，也可以用查找表使用外推值表示。
V
Vector Network Analyzer 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 -?一種信號分析儀器，提供被測設(shè)備的S參數(shù)、史密斯圓圖和網(wǎng)絡(luò)表示。通過允許用戶測量復(fù)雜阻抗測量的幅度和相位分量，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以提供高水平的性能。所得數(shù)據(jù)可以顯示為頻率響應(yīng)列表或史密斯圓圖。
Vector Network Analyzer architecture 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀架構(gòu) -?構(gòu)成矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的各種組件和操作所產(chǎn)生的系統(tǒng)。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的架構(gòu)是使其能夠測量幅值和相位分量，提供高水平的性能，并以多種形式（如列表格式或史密斯圖）顯示其數(shù)據(jù)。它包括諸如信號源、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、檢測器、計算機輔助測試設(shè)備接口和顯示器等部件。
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