
近日,廈門大學電子科學與技術學院梅洋助理教授、張保平教授團隊聯合中國科學院半導體研究所趙德剛研究員、楊靜研究員團隊,在紫外波段氮化鎵(GaN)基垂直腔面發射激光器(VCSEL)研究方面取得重要突破。
相關成果以《GaN-based ultraviolet vertical-cavity surface-emitting lasers operating under room-temperature continuous-wave current injection》為題發表于國際應用物理領域期刊《Applied Physics Letters》。
該研究首次實現了室溫連續電流注入條件下紫外GaN基VCSEL連續激射(Continuous-Wave,CW),成功將電驅動GaN基VCSEL的工作波長拓展至380.1 nm,填補了國際上400 nm以下紫外波段電注入GaN基VCSEL連續激射的空白,為紫外半導體激光器的發展邁出了關鍵一步。

圖 (a-c) 紫外VCSEL器件截面SEM照片;(d) 不同注入電流下的電致發光光譜,激射波長為380.1 nm
GaN基VCSEL因具有低閾值、圓形光斑、易于二維陣列集成等優勢,在照明顯示、光通信、海洋探測、生物醫療、紫外固化及殺菌消毒等領域具有廣闊應用前景。目前,藍光至綠光GaN基VCSEL技術已取得較快發展,但波長進入400 nm以下紫外區域后,器件長期面臨光學損耗大、散熱困難等技術瓶頸。
研究團隊指出,傳統器件主要存在兩方面限制:
一方面,廣泛采用的ITO透明導電層在紫外波段具有較高吸收損耗,嚴重降低腔內光子效率;另一方面,傳統SiO?電流限制層導熱能力較弱,器件工作過程中產生的熱量難以及時散發,導致連續電注入激射難以實現。因此,此前國際公開報道的電注入GaN基VCSEL工作波長均高于400 nm。
針對上述難題,廈門大學團隊圍繞器件結構進行了系統優化,中國科學院半導體所團隊則重點負責高質量GaN紫外VCSEL外延材料生長,雙方實現了器件設計與材料制備的協同創新。
在光學設計方面,研究人員引入HfO?光學調節層,優化腔內光場分布,并將ITO電流擴展層厚度減薄至20 nm,使ITO位于光場節點、有源區位于光場波腹,大幅降低光吸收損耗。實驗結果顯示,ITO吸收損耗由此前報道的16.4 cm?1降低至5.1 cm?1,降幅達到69%。
與此同時,團隊采用B?離子注入替代傳統SiO?電流限制層,并結合電鍍銅熱沉技術,有效提升器件散熱能力,使器件熱阻降至209 K/W,顯著優于已有同類報道。
此外,研究團隊還在激光剝離(LLO)后引入化學機械拋光(CMP)工藝,將n-GaN表面均方根粗糙度(RMS)由1.71 nm降低至0.24 nm,使界面散射損耗由3.26%降至0.07%,進一步提升了器件光學性能。
在器件結構、熱管理及外延材料綜合優化的基礎上,研究團隊最終成功實現了380.1 nm紫外GaN基VCSEL室溫連續電注入激射。
測試結果顯示,該器件的閾值電流密度為14.9 kA/cm2,開啟電壓約4.3 V,反向漏電流保持在10?? A量級,展現出良好的電學性能。激射發生后,380.1 nm峰值迅速增強,譜線半高寬收窄至約28 pm,表明器件已實現穩定連續激光輸出。
研究團隊表示,此項成果首次驗證了電注入紫外GaN基VCSEL的技術可行性,將GaN基VCSEL的電驅動工作波長成功拓展至紫外波段,不僅突破了國際長期存在的技術瓶頸,也為紫外VCSEL的小型化、集成化和陣列化發展奠定了重要基礎。
未來,隨著器件性能的進一步提升,紫外GaN基VCSEL有望在生物檢測、醫療診斷、殺菌消毒、紫外固化、精密傳感以及新一代紫外光通信等領域獲得更加廣泛的應用,為紫外光電子產業的發展提供新的技術支撐。
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