▲?點擊上方藍字關(guān)注我們,不錯過任何一篇干貨文章!Multi-Die 設(shè)計重要性日益凸顯,監(jiān)測、測試和修復(fù)封裝器件方面的挑戰(zhàn)也逐漸顯現(xiàn),基于探針的傳統(tǒng)方法已無法滿足當前需求;而為了充分利用 Multi-Die 系統(tǒng)集成的優(yōu)勢,開發(fā)者也必須克服相對新穎的復(fù)雜驗證任務(wù)所帶來的挑戰(zhàn)。新思科技為 Multi-Die 系統(tǒng)驗證、設(shè)計監(jiān)測、測試和修復(fù)均提供了更好的解決方案,讓開發(fā)者可以輕松地完成設(shè)計工作。
本期白皮書分別討論了 Multi-Die 設(shè)計測試、系統(tǒng)驗證所面臨的挑戰(zhàn)及新思科技解決方案,教你輕松“拿捏”Multi-Die。1、掃描下方二維碼
2、添加EEWorld小助手wx:helloeeworld,回復(fù)1013,獲取觀看鏈接。

《Multi-Die 設(shè)計的有效監(jiān)控、測試和修復(fù)》2推動 Multi-Die 系統(tǒng)發(fā)展的因素2Multi-Die 設(shè)計測試所面臨的挑戰(zhàn)2新思科技 IEEE1838 及通道測試和修復(fù)(LTR)解決方案2新思科技 ext-RAM 與 UCIe 監(jiān)控、測試和修復(fù)(MTR)IP《克服 Multi-Die 系統(tǒng)驗證所面臨的挑戰(zhàn)》2推動 Multi-Die 系統(tǒng)發(fā)展的因素2Multi-Die 系統(tǒng)驗證所面臨的挑戰(zhàn)2高效的 Multi-Die 系統(tǒng)驗證2新思科技 Multi-Die 系統(tǒng)驗證解決方案歡迎將我們設(shè)為“星標”,這樣才能第一時間收到推送消息。掃碼關(guān)注:汽車開發(fā)圈,回復(fù)“總線”免費領(lǐng)取汽車總線系統(tǒng)設(shè)計資料合集!

?【以上內(nèi)容包含廣告】