
近日,浙江大學(xué)杭州國際科創(chuàng)中心先進(jìn)半導(dǎo)體研究院傳來新進(jìn)展。皮孝東教授、王蓉研究員團(tuán)隊(duì)成功制備出厚度超過300微米的超厚碳化硅外延材料,實(shí)現(xiàn)了國際上首次300微米級超厚碳化硅外延薄膜的穩(wěn)定生長,為超高壓碳化硅功率器件的發(fā)展提供了關(guān)鍵材料支撐。

相比傳統(tǒng)硅材料,碳化硅具備更高擊穿電場、更高熱導(dǎo)率和更強(qiáng)耐高溫能力,近年來已廣泛應(yīng)用于新能源汽車、光伏逆變器、儲能等領(lǐng)域。目前主流碳化硅功率器件耐壓等級大多集中在3300伏以內(nèi),對應(yīng)外延層厚度約30微米即可滿足需求。但隨著智能電網(wǎng)、高鐵、大型船舶等高壓場景快速發(fā)展,器件耐壓正向10千伏乃至30千伏級邁進(jìn),這也對碳化硅外延層厚度提出更高要求。
研究團(tuán)隊(duì)介紹,若要實(shí)現(xiàn)3萬伏級器件,外延層厚度需要提升至300微米以上,相比現(xiàn)有主流產(chǎn)品增厚超過10倍。然而,隨著外延層持續(xù)增厚,材料內(nèi)部應(yīng)力和缺陷會快速累積,生長難度呈幾何級增加。為解決這一問題,團(tuán)隊(duì)圍繞設(shè)備設(shè)計(jì)、生長工藝及缺陷控制開展系統(tǒng)攻關(guān),最終成功制備出厚度達(dá)312微米的碳化硅外延片,同時(shí)將表面致命缺陷密度控制在0.75個(gè)/平方厘米。相關(guān)成果已在2025年國際碳化硅及相關(guān)材料會議(ICSCRM 2025)上公開報(bào)道。
在超厚外延材料制備過程中,團(tuán)隊(duì)還重點(diǎn)解決了“肖克利型層錯(cuò)”這一關(guān)鍵缺陷問題。該缺陷在高壓、高溫工作環(huán)境下會逐漸擴(kuò)展,影響器件長期可靠性。研究人員從能帶結(jié)構(gòu)出發(fā),揭示了缺陷在電場中的擴(kuò)展機(jī)制,并提出一種基于低功率紫外光與高溫協(xié)同處理的后處理方案。通過紫外光掃描,可促使缺陷內(nèi)部電子遷移,使層錯(cuò)逐漸收縮直至消失。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示,該方法可實(shí)現(xiàn)440兆帕應(yīng)力條件下誘發(fā)層錯(cuò)的100%消除。相關(guān)成果已發(fā)表于《Science China Physics, Mechanics & Astronomy》。
此次突破的重要意義,在于為30千伏級以上碳化硅功率器件打開了產(chǎn)業(yè)化空間。當(dāng)前,我國新型智能電網(wǎng)配電網(wǎng)電壓等級已達(dá)到1萬至3.5萬伏,高鐵接觸網(wǎng)電壓約2.75萬伏,大型全電推進(jìn)船舶的直流電網(wǎng)同樣需要更高耐壓器件支持。采用超厚碳化硅外延材料后,可有效降低系統(tǒng)開關(guān)損耗,提升能源利用效率,同時(shí)減小設(shè)備體積與重量。
除了高壓功率電子領(lǐng)域,300微米級碳化硅材料還可滿足量子信息、輻射探測等方向?qū)Ω咂焚|(zhì)厚膜材料的需求,在高能粒子探測、空間輻射監(jiān)測等領(lǐng)域也具有應(yīng)用潛力。
據(jù)了解,浙江大學(xué)杭州國際科創(chuàng)中心先進(jìn)半導(dǎo)體研究院長期圍繞碳化硅材料生長、應(yīng)力調(diào)控、雜質(zhì)與缺陷機(jī)理等方向開展研究。近三年來,團(tuán)隊(duì)在碳化硅領(lǐng)域已形成較強(qiáng)學(xué)術(shù)影響力,累計(jì)獲得授權(quán)發(fā)明專利70余項(xiàng),其中11項(xiàng)已實(shí)現(xiàn)技術(shù)轉(zhuǎn)讓或許可,相關(guān)成果正加速推進(jìn)產(chǎn)業(yè)化落地。

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