其他博主在《https://mp.weixin.qq.com/s/Nqkros1DSHuA99rH5JXJ-w》一文詳細介紹了英飛凌TC3xx_LBIST原理及實現步驟，我們不再重復他的內容，我們站在巨人的肩膀上先給出功能安全手冊中關于LBIST的需求后再細化下LBIST的實現細節，然后介紹一個LBIST測試中可能存在的問題。
AUTOSAR BSW: Vector Davinci
MCAL: EB Infineon
HW Platform: TC3xx
Debug Tool: UDE
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《AURIX TC3xx Safety Manual v1.11.pdf》
LBIST 是一種安全機制，它通過執行結構測試并檢查MCU的數字邏輯來檢測硬錯誤：包括潛在故障和多點故障。
應用程序軟件應通過LBISTCTRL0、LBISTCTRL1和LBISTCTRL2配置 LBIST 參數，并按照用戶手冊中的說明啟動 LBIST 執行。冷啟動復位后，固件也可通過 UCB 寄存器配置 LBIST 參數，并按照用戶手冊說明（配置方案A）啟動 LBIST 執行。
應用程序軟件應在LBIST 執行完成后檢查 LBIST 結果，并將其與預期值進行比較。
在檢查MISR 簽名之前，應用程序軟件應通過檢查LBISTCTRL0.l LBISTDONE==‘1’和RSTSTAT. LBTERM =‘1’，確認先前觸發的LBIST 運行是否已成功終止。
隨后，需將LBISTCTRL3生成的32位 MISR 簽名結果與預期的 MISR 結果進行比對。
在此背景下需注意，預期的MISR 簽名結果取決于產品版本、應用的LBIST-patterns數量（LBISTCTRL0.PATTERNS）以及LBISTCTRL1寄存器中的 LBIST 配置位（包括 BODY位）。
要成功執行LBIST ，必須確保LBISTCTRL2的length字段默認值未被應用程序軟件修改。
應當認識到，LBIST 是一種結構測試方法，其切換活動頻繁，且要求環境電壓和溫度條件穩定。因此，在極端運行條件下，單次 LBIST 測試可能因出現意外 MISR 結果而失敗。
在這種情況下，必須至少重復執行兩次 LBIST 測試來確認硅器件的故障行為。如果 LBIST 功能在連續三次運行中均未能生成正確的MISR 簽名，則該器件應被視為存在缺陷，且不得啟動至安全應用程序。
完成MISR 簽名驗證后，建議通過設置LBISTCTRL0(lbistres=‘1’)將 LBIST 控制器恢復至安全復位狀態。此舉將清除LBISTCTRL3寄存器中的 MISR 簽名，但卻是解除 LBIST SMU警報ALM8[5]位有效狀態所必需的。
《Infineon-AURIX_TC38x-UserManual-v02_00-EN.pdf》
LBIST 功能可通過SCU層級的四個寄存器進行控制：LBISTCTRL0、LBISTCTRL1、LBISTCTRL2和LBISTCTRL3（有關這些寄存器的完整說明，請參閱該系列規范）。
LBISTCTRL3寄存器存儲 MISR 簽名值，該值可在 LBIST 執行后（且執行有效）通過軟件讀取。只有當軟件讀取的MISR簽名值和預期值一致的時候，才能認為LBIST測試成功。
LBIST用戶軟件測試流程如下圖所示，軟件可按該流程圖來具體實現，ECU每次重啟的時候執行一次測試。圖中具體判斷條件和實施動作在后文將詳細介紹。
