
簡介
高速IV脈沖和測量是某些半導(dǎo)體應(yīng)用(如功率器件測試或減少直流測量引起的自熱效應(yīng))的常見需求。4200A-SCS參數(shù)分析儀的雙通道4225-PMU超快I-V模塊(PMU)支持多種高速源/測量應(yīng)用。PMU有三種超快IV源和測量模式:脈沖IV、波形捕獲和Segment Arb波形。這三種模式如圖1所示。

圖1. 4225-PMU脈沖測量儀的超快IV模式
脈沖IV是一種脈沖源和相應(yīng)的高速、基于時(shí)間的測量,提供類似直流的結(jié)果。每個(gè)脈沖在預(yù)定義的“點(diǎn)均值”窗口中讀取平均值。波形捕獲模式輸出高速電壓脈沖,并在時(shí)域中測量電流和電壓響應(yīng)。Segment Arb功能可用于在可靠性循環(huán)中使用交流信號(hào)對(duì)器件進(jìn)行壓力測試,或在多電平波形模式下編程/擦除存儲(chǔ)器器件。這種脈沖源涉及使用內(nèi)置的Segment Arb波形功能輸出用戶定義的兩電平或多電平脈沖。4200A-SCS Clarius軟件支持多達(dá)8通道的Segment Arb波形。
從Clarius V1.14開始,Clarius測試庫包含PMU Segment Arb波形測試,支持多達(dá)8通道的多電平脈沖。除了Segment Arb測試外,該庫還包括許多PMU應(yīng)用的測試,如 MOSFET、二極管和存儲(chǔ)器器件的脈沖IV和波形捕獲測量。從Clarius V1.13開始,PMU測量可以通過命令和外部計(jì)算機(jī)遠(yuǎn)程控制。
本應(yīng)用說明介紹了PMU的Segment Arb波形功能,以及如何使用內(nèi)置庫測試進(jìn)行高速、時(shí)間控制的脈沖應(yīng)用。
Segment Arb波形
Clarius軟件中的Segment Arb波形功能是一種線段波形生成器,可用于4225-PMU或4220-PGU脈沖生成單元(無測量功能)。通過輸入表格值,可以配置PMU的每個(gè)通道輸出由用戶定義的線段組成的波形,最多支持2048個(gè)線段。每個(gè)線段可單獨(dú)設(shè)置時(shí)間間隔、起始和停止電壓值、起始和停止測量窗口值、輸出觸發(fā)和輸出繼電器狀態(tài) ( 打開或關(guān)閉 )。每個(gè)線段支持點(diǎn)均值和采樣模式測量。Segment Arb?波形功能的具體細(xì)節(jié)見附錄A中的表格。

圖2. 由9個(gè)線段組成的Segment Arb波形
圖2展示了一個(gè)PMU Segment Arb波形的示例。該序列包含9個(gè)線段,生成一個(gè)+35V脈沖持續(xù)1e-3秒,然后是一個(gè)-35V脈沖持續(xù)1e-3秒。上升和下降時(shí)間為10e-6秒。(注:時(shí)間軸未按比例繪制。)每個(gè)線段的起始電壓、停止電壓和時(shí)間如下:
起始電壓 (V):0, 0, 35, 35, 0, 0, -35, -35, 0
停止電壓 (V):0, 35, 35, 0, 0, -35, -35, 0, 0
線段時(shí)間 (s):10e-6, 10e-6, 1e-3, 10e-6, 1e-3, 10e-6, 1e-3, 10e-6, 10e-6
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利用Segment Arb波形進(jìn)行高速IV測量
將脈沖技術(shù)引入先進(jìn) CMOS 技術(shù)的可靠性測試
用于溝道有效遷移的超快速單脈沖(UFSP)技術(shù)測量
減少 HCI 和電遷移的測試時(shí)間
基于 4200A 和 70xB 的多器件并行測試溝道熱載流子(CHC)退化測試方案
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使用波形庫測試
4200A-SCS內(nèi)置庫包含豐富的測試和項(xiàng)目,可輕松配
置和輸出Segment Arb波形和序列。其中一個(gè)庫項(xiàng)目pmu-segarb-examples的項(xiàng)目樹如圖3所示。該項(xiàng)目包含用于輸出(并測量I和V)用戶定義波形的測試,最多支持8個(gè)通道。部分測試支持波形序列化,即重復(fù)輸出線段。以下是這些測試的描述:

圖3. pmu-segarb-examples項(xiàng)目的項(xiàng)目樹
Segment Arb的示例庫測試提供相同的基本控制,但通道數(shù)量、測量模式(波形、點(diǎn)均值或兩者)和序列化能力有所不同。每個(gè)測試中所有通道共有的輸入?yún)?shù)包括:
? 線段數(shù)量
? 線段時(shí)間
? 觸發(fā)控制
? 測量類型 ( 波形或點(diǎn)均值 )
? 測量窗口 ( 線段內(nèi)的測量起始和停止時(shí)間 )
每個(gè)通道單獨(dú)定義的輸入?yún)?shù):
? 電壓幅度
? 電壓源范圍
? 電流測量范圍
? 固態(tài)輸出繼電器控制(所有通道同時(shí)打開或關(guān)閉)
以下段落描述了每個(gè)測試的功能:
pmu-segarb:該測試在單個(gè)PMU的兩個(gè)通道上生成多線段波形 (Segment Arb),并測量和返回波形數(shù)據(jù) (V和I隨時(shí)間變化,無點(diǎn)均值)。默認(rèn)配置為使用 Segment Arb脈沖模式輸出和測量幅度掃描,并測量波形(V和I,無點(diǎn)均值)。
pmu-segarb-b:與pmu-segarb測試類似,但用戶可以選擇返回波形捕獲數(shù)據(jù)或點(diǎn)均值數(shù)據(jù)。
pmu-segarb-complete:在單個(gè)PMU的兩個(gè)通道上配置多序列、多線段波形 (Segment Arb),并測量和返回波形(V和I隨時(shí)間變化)或每個(gè)啟用測量的線段的點(diǎn)均值數(shù)據(jù)。該測試支持多達(dá)2048個(gè)線段,每個(gè)序列可以循環(huán)以生成更復(fù)雜的Segment Arb波形。
pmu-segarb-complete-4ch:pmu-segarb-complete 測試相同,但支持4個(gè)通道(使用兩個(gè) PMU)。
pmu-segarb-complete-8ch:與pmu-segarb-complete 測試相同,但支持8個(gè)通道(使用四個(gè) PMU)。
pmu-segarb-complete-multi-ch:與其他pmu-segarb-complete測試類似,但增加了靈活性,支持 1至8個(gè)通道的任意組合。通過通道控制復(fù)選框選擇需要使用的通道。
使用Segment Arb庫測試示例
本節(jié)介紹如何使用Segment Arb庫測試,包括 Segment Arb配置表和結(jié)果輸出。以三個(gè)測試為例:pmu-segarb、pmu-segarb-complete-4ch和pmu-segarb-complete-multi-ch。
pmu-segarb測試
雙通道pmu-segarb測試具有基本的Segment Arb功能,包括配置多線段波形、測量波形的I和V并將數(shù)據(jù)返回到分析視圖的表格和圖表中。測試在配置視圖中設(shè)置,如圖4所示。

圖4. pmu-segarb測試配置視圖
Segment Arb配置表通過“Ch1或Ch2 Segment ARB Definition”訪問。選擇“輸入值”后,通道2的Segment Arb配置表將打開,如圖5所示。在此表中,可以配置通道2的起始電壓 (StartVCh2)、停止電壓 (StopVCh2)、線段時(shí)間 (SegTime)、固態(tài)繼電器狀態(tài) (SSRCtrlCh2) 和觸發(fā)輸出 (SegTrigOut)。SegTrigOut用于控制TTL電平觸發(fā)輸出脈沖的開關(guān) (1/0),以同步脈沖輸出與外部儀器的操作。
配置菜單底部顯示定義的電壓隨時(shí)間變化的波形預(yù)覽窗口。

圖5. pmu-segarb測試的Ch2分段Arb配置表
測試執(zhí)行后,每個(gè)通道的電流和電壓(僅波形模式) 以及時(shí)間輸出將返回到分析視圖的表格中。圖6顯示了pmu-segarb測試中通道1和通道2的電壓隨時(shí)間變化的圖表。

圖6. 在pmu-segarb測試的分析視圖中,Ch1和Ch2的電壓隨時(shí)間變化的圖表
pmu-segarb-complete-4ch測試
pmu-segarb-complete-4ch測試是一個(gè)四通道測試,需要兩個(gè)PMU。與pmu-segarb和pmu-segarb-b測試相比,所有pmu-segarb-complete測試增加了更多測量控制和序列化能力。擴(kuò)展的Segment Arb配置菜單如圖7所示。

圖7. 用于pmu-segarb-complete-4ch測試的Segment Arb配置菜單
每個(gè)通道的Segment Arb配置菜單包含三個(gè)部分:
■ 1. 線段和序列:可配置每個(gè)Segment Arb變量,包括起始電壓、停止電壓、線段時(shí)間、啟用測量、高耐久輸出繼電器控制、觸發(fā)值、測量類型、測量起始時(shí)間(脈沖百分比)和測量停止時(shí)間(脈沖百分比)。底部的選項(xiàng)卡用于切換不同序列。
■ 2. 波形序列列表:右上部分顯示波形的序列列表,指示選定序列的輸出順序。最左側(cè)列是序列順序,最右側(cè)列顯示循環(huán)次數(shù)。
■ 3. 預(yù)覽窗口:底部顯示電壓隨時(shí)間變化的波形預(yù)覽窗口,用戶可選擇查看選定序列或整個(gè)波形。
執(zhí)行測試后,四個(gè)通道的測量電流和電壓以及時(shí)間輸出將返回到分析視圖的表格中。圖8顯示了四個(gè)通道的測量電壓圖表。

圖8. pmu-segarb-complete-4ch測試結(jié)果在分析視圖中以圖表形式顯示
如果將四個(gè)PMU通道的輸出連接到Tektronix 5系列 MSO示波器的四個(gè)輸入通道,測試執(zhí)行結(jié)果如圖9所示。

圖9. Tektronix 5系列MSO示波器上pmu-segarb-complete-4ch測試的輸出
pmu-segarb-complete-multi-ch測試
該測試與pmu-segarb-complete-4ch測試類似,但增加了額外的靈活性。該模塊支持運(yùn)行1至8個(gè)通道的任意組合,通過通道控制復(fù)選框選擇通道。圖10顯示了該測試的配置視圖及額外的復(fù)選框。

圖10. pmu-segarb-complete-multi-ch測試,帶有單個(gè)通道控制復(fù)選框
用戶可以選擇任意數(shù)量的通道(包括奇數(shù)通道),共有255種通道組合可供配置。圖11顯示了該測試中五個(gè)通道的電壓隨時(shí)間變化輸出圖表。

圖11. 在pmu-segarb-complete-multi-ch測試中配置的五個(gè)通道的Analyze視圖中的電壓與時(shí)間輸出圖表
PMU Segment Arb功能的遠(yuǎn)程控制
除了使用Clarius交互軟件控制PMU Segment Arb功能外,4200A-SCS參數(shù)分析儀和4225-PMU還可以通過外部計(jì)算機(jī)遠(yuǎn)程控制以實(shí)現(xiàn)測試自動(dòng)化。Keithley外部控制接口 (KXCI) 支持通過計(jì)算機(jī)發(fā)送命令遠(yuǎn)程控制4200A-SCS中的儀器模塊。控制計(jì)算機(jī)可通過GPIB或以太網(wǎng)連接到4200A-SCS,使用編程環(huán)境遠(yuǎn)程發(fā)送KXCI命令。另一篇應(yīng)用說明《使用Keithley 4225-PMU脈沖測量單元進(jìn)行脈沖IV測試自動(dòng)化》介紹了如何遠(yuǎn)程使用PMU,并包含示例代碼。

總之,Clarius軟件與4200A-SCS參數(shù)分析儀的4225-PMU超快I-V模塊的脈沖功能相結(jié)合,支持多達(dá)8個(gè)通道(四個(gè) PMU)的Segment Arb輸出。Segment Arb功能可通過Clarius軟件或使用KXCI遠(yuǎn)程控制進(jìn)行配置。Segment Arb是半導(dǎo)體測試的強(qiáng)大工具,為廣泛的應(yīng)用提供高速、時(shí)間控制的脈沖功能。
附錄A:Segment Arb庫測試詳情
類別 | 詳情 |
每段時(shí)間 | 帶/不帶測量:20ns至1秒(10V范圍),50ns至1秒(40 V范圍) |
電壓幅度 | 起始電壓:-40V至+40V或-10V至+10V(40和10V范圍) |
線段數(shù)量 | 每序列:3至2048個(gè)線段 |
序列數(shù)量 | 最多512個(gè)序列 |
最大通道數(shù) | 8個(gè)通道(四個(gè) PMU) |
測量類型 | 無測量、點(diǎn)均值離散、波形離散、點(diǎn)均值平均、波形平均 |
序列循環(huán) | 最多2.14e9次 |
附加規(guī)則 | 所有通道的線段時(shí)間必須相同,電壓過渡必須無縫。 |
附錄B:Segment Arb 測試錯(cuò)誤代碼
錯(cuò)誤代碼 | 描述 |
0 | 正常。 |
-3 | 通道的線段時(shí)間必須相同。 |
-4 | 序列定義損壞。 |
-122 | 參數(shù)值非法,例如電流測量范圍與電壓范圍不匹配。 |
-820 | 線段起始電壓與前一線段停止電壓不匹配。 |
-835 | 線段時(shí)間過短,無法完成測量。 |
-846 | 請(qǐng)求的電壓超過最大可用電壓。 |
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