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大家好，我是雜燴君。
本次我們來介紹嵌入式可測試軟件設(shè)計。
什么是可測試性？就是你這個軟件模塊/函數(shù)接口寫完之后，可以較為方便、較為全面地進(jìn)行自測?。
舉個簡單的例子來認(rèn)識可測試性軟件。
有一個計算函數(shù)cal_func，其計算依賴于存在flash里的數(shù)據(jù)a，與一個外部輸入的數(shù)據(jù)b。
此時，有如下兩種實現(xiàn)方法：
方法一：
int?get_a_from_flash(void)
{
?int?a?=?0;
?flash_read(&a,?sizeof(int));
?
?return?a;
}
int?cal_func(int?b)
{
?int?res?=?0;
?int?a?=?get_a_from_flash();
?
?res?=?a?+?b;
?
?return?res;
}
//?調(diào)用
cal_func(5);
方法二：
int?get_a_from_flash(void)
{
?int?a?=?0;
?flash_read(&a,?sizeof(int));
?
?return?a;
}
int?cal_func(int?a,?int?b)
{
?int?res?=?0;
?
?res?=?a?+?b;
?
?return?res;
}
//?調(diào)用
cal_func(get_a_from_flash(),?5);
這種類似場景，實際開發(fā)中應(yīng)該有不少，大家平時都是按照方式一寫代碼還是方式二寫代碼呢？
從可測試性的角度來看， 方法二的實現(xiàn)，更具備可測試性 。
方式一，因為有一個數(shù)據(jù)是在函數(shù)內(nèi)部從flash中讀取的，所以這個數(shù)據(jù)我們不太方便進(jìn)行控制，而能控制的只有參數(shù)b。那么，這樣子，我們在調(diào)用測試時，測得就不是很全，也不能靈活地控制測試路徑。
方式二，計算所依賴的數(shù)據(jù)都通過函數(shù)參數(shù)留出來了，我們可以很方便地對函數(shù)進(jìn)行測試，可以很方便地輸入不同的數(shù)據(jù)組合。
并且，一般地，我們會引入一些 單元測試框架 ，用來統(tǒng)一管理我們的測試?yán)印?/p>
嵌入式中，常用的測試框架：
使用測試框架之后，針對cal_func函數(shù)設(shè)計的測試代碼如：
int?ut_cal_func(int?argc,?char?*argv[])
{
????if?(argc?!=?3)
????{
????????printf("Param?num?err\n");
????????return?USAGE;
????}
????//?預(yù)期結(jié)果
????int?expected_res?=?atoi(argv[2]);?
????//?實際結(jié)果??????????????????
?int?res?=?cal_func(atoi(argv[0]),?atoi(argv[1]));???
????if?(expected_res?==?res)
????{
????????printf("input?%d,?%d,?test?pass!\n",?atoi(argv[0]),?atoi(argv[1]));
????}
????else
????{
????????printf("input?%d,?%d,?test?failed!\n",?atoi(argv[0]),?atoi(argv[1]));
????}
?return?0;
}
我們封裝成串口測試指令：
//?測試路徑1
ut?app?ut_cal_func?1?2?3
????
//?測試路徑2
ut?app?ut_cal_func?2?3?5
????
//?...
輸出：
input?1,?2,?test?pass!
input?2,?3,?test?pass!
這就是一個可測試性軟件設(shè)計的一個小例子，通過這個小例子大家應(yīng)該認(rèn)識到可測試性軟件的好處了吧？
所以，之后寫代碼，寫之前，有必要先想清楚，這個模塊最后要怎么進(jìn)行自測？要測哪些地方？
設(shè)計的軟件可測試性強(qiáng)，我們就能在開發(fā)階段進(jìn)行充分地測試，在開發(fā)階段盡可能多地解決一些邏輯上的問題，從而保證更高質(zhì)量地軟件交付。
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