泰克先進半導體開放實驗室V2.0正式揭幕，開啟功率器件測試新篇章

實驗室升級亮點

此次揭幕儀式得到了行業內外的廣泛關注和支持。泰克科技中國區分銷業務總經理宋磊為本次盛會做了開幕致辭，第三代半導體產業技術創新戰略聯盟副秘書長高偉博士，中關村天合寬禁帶半導體技術創新聯盟副秘書長侯喜峰，國家新能源汽車創新中心功率測試平臺負責人郭大銘，以及泰克科技技術總監張欣也在現場進行了精彩分享。泰克的合作伙伴飛仕德、眾力為、歐菲特等展示了與泰克在第三代半導體應用上的合作成果。

測試系統介紹

■ 功能與特點：DPT1000A具備高測試帶寬、低寄生參數和高兼容性，能夠完成包括開關參數、反向恢復、雪崩測試和短路測試等在內的多種動態參數測試。

■ 適用范圍：支持Si MOSFET、IGBT、PMOS、SiC、GaN等多種功率器件的動態特性表征，適配多種測試標準，廣泛應用于新一代功率器件的研發和驗證。

■ 功能與特點：SPT1000A系統搭載業界領先的源表（SMU）和精密LCR表，能夠在高壓、大電流條件下實現精確測量和參數分析。系統具有漏電流測試分辨率高、寄生電容測量精度高的優勢。

■ 適用范圍：適用于各類分立器件的靜態參數測試，包括二極管、三極管、絕緣柵型場效應管等，特別是新型功率半導體器件如碳化硅、氮化鎵等的靜態參數測試。

■ 功能與特點：HTXB-1000B系統針對三代半導體功率器件設計，依據AQG-324標準，通過加速老化條件下的靜態和動態壓力測試，評估器件的老化特性和工作壽命。

■ 適用范圍：幫助器件生產廠商和用戶在較短時間內了解功率器件的老化特性，預判和分析在實際應用中可能出現的故障，提升產品可靠性。

■ 功能與特點：DHTOL-1000B采用高溫操作壽命（HTOL）測試方法，模擬器件在實際工作環境下的老化過程，通過硬開關測試有效預測器件的預期壽命。

■ 適用范圍：為SiC和GaN等第三代半導體功率器件的可靠性評估提供科學依據，幫助設計者深入理解器件在預期壽命周期內的性能表現，制定更精準的產品開發和優化決策。

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