SysPro電力電子 技術(shù)前瞻快報(bào)
AI供電靠近芯片之后,GF真正想押注的不是單個(gè)工藝,而是BCD、FinFET、GaN和薄膜磁件的垂直協(xié)同
SysPro電力電子技術(shù)-前瞻洞察 | 數(shù)據(jù)來源: GlobalFoundries
這篇我們聚焦于:AI數(shù)據(jù)中心垂直供電,準(zhǔn)確的說是其制程上的分工。
AI供電越靠近芯片,越不能只靠一個(gè)功率器件解決問題,而要把低壓POL、片上/封裝內(nèi)IVR、48V中間母線和磁件集成放到同一套半導(dǎo)體工藝組合里。

這篇材料我們按“電壓層級(jí)”來讀,而不是按單個(gè)器件來讀:
越靠近芯片,電壓越低、電流越大、路徑越短,對(duì)工藝密度、漏電、金屬、電容和磁件的要求越極端;
越靠近機(jī)架/母線,耐壓、頻率和可靠性又變成主矛盾。
所以,這篇我們核心來看看:AI供電每下沉一級(jí),應(yīng)該由哪類工藝接力?

一、為什么垂直供電先變成制程組合題?
先引出一個(gè)結(jié)論:AI供電鏈路已經(jīng)不再是單個(gè)VRM模塊問題,而是從±400V到48V、再到2V-6V和0.xV的多層轉(zhuǎn)換問題。每一層的電壓、電流、頻率和集成位置不同,對(duì)工藝的要求也完全不同。
可見垂直供電不是一個(gè)位置變化,而是一條電壓層級(jí)不斷下沉的鏈路:從交流輸入、不間斷電源、48V中間母線,到板級(jí)VRM、封裝內(nèi)調(diào)壓和AI處理器近端,電壓越來越低、電流越來越大、路徑越來越短,工藝選擇也隨之改變。

圖片來源:GlobalFoundries | 從±400V、48V到芯片近端供電的數(shù)據(jù)中心電源架構(gòu)
不同電源位置需要不同制程能力。今天我們聊的GF的方案,就是將一系列的技術(shù)方案放一起,來講明白整條鏈路:BCD覆蓋5V-8V POL,F(xiàn)inFET覆蓋2V輸入的封裝/片上調(diào)壓,GaN覆蓋48V或更高電壓轉(zhuǎn)換,集成電感負(fù)責(zé)把高頻轉(zhuǎn)換真正壓薄。

圖片來源:GlobalFoundries | GF技術(shù)版圖:BCD、FinFET、GaN和集成薄膜電感分別對(duì)應(yīng)不同供電層級(jí)
二、55BCD解決的是5V-8V POL的電流密度和可靠性
先聊下55BDC。
55BCD的價(jià)值不是單純低導(dǎo)通電阻,而是在5V-8V輸入POL里同時(shí)處理電流密度、漏電、銅金屬和車規(guī)級(jí)可靠性。
AI負(fù)載側(cè)電壓低、電流大,真正難的是把電流從板級(jí)電源穩(wěn)定送到處理器附近,同時(shí)避免金屬損耗、寄生噪聲和長期可靠性把效率收益吃掉。
圖片來源:GlobalFoundries | 55BCD面向5V-8V POL的可靠性、銅金屬和低漏電能力
GF的報(bào)告中還說明了55BCD的高電流密度。
它把不同耐壓等級(jí)的橫向器件特性放在一起看,重點(diǎn)是說明在5V到24V這一段,低比導(dǎo)通電阻和高電流密度是低壓POL能不能成立的基礎(chǔ)。
三、FinFET真正對(duì)應(yīng)的是2V輸入的封裝內(nèi)電壓調(diào)節(jié)
FinFET對(duì)應(yīng)的是更靠近負(fù)載的2V輸入電壓調(diào)節(jié),而不是傳統(tǒng)意義上的高壓功率開關(guān)。在這一層,低Ron、低Qg、低Qoss、低漏電和高密度MIM電容、TSV能力會(huì)一起決定封裝內(nèi)IVR能不能高頻運(yùn)行。
這里的關(guān)鍵是位置變化:當(dāng)調(diào)壓器進(jìn)入封裝或接近芯片時(shí),電流路徑不再只是PCB走線問題,而會(huì)變成硅工藝、片上電容、垂直互連和熱路徑共同決定的系統(tǒng)問題。

圖片來源:GlobalFoundries | 12LP+ FinFET面向2V輸入POL/IVR的關(guān)鍵FoM與MIM、TSV能力
四、GaN卡住48V中間母線和高頻無源件縮小的入口
GaN在數(shù)據(jù)中心里的角色,是把48V或更高電壓轉(zhuǎn)換推到更高頻率,從而縮小被動(dòng)器件體積。它不是替代BCD或FinFET,而是工作在更高電壓層級(jí),主要解決中間母線轉(zhuǎn)換、車載充電、DC/DC和電源供應(yīng)器中的頻率、效率與體積問題。

圖片來源:GlobalFoundries | GaN在數(shù)據(jù)中心48V與高壓轉(zhuǎn)換中的位置
因此GaN路線圖要看兩個(gè)方向:650V用于更高電壓和電源前級(jí),100V級(jí)用于48V相關(guān)轉(zhuǎn)換。集成ESD、驅(qū)動(dòng)和保護(hù)IP的意義,是把高頻開關(guān)從單管參數(shù)推進(jìn)到可用電源單元。

圖片來源:GlobalFoundries | GF GaN路線圖:650V、100V級(jí)GaN與集成驅(qū)動(dòng)/保護(hù)IP
五、薄膜磁件決定高頻集成能不能真的省體積
如果只有高頻開關(guān)、沒有可集成的高頻磁件,垂直供電仍然會(huì)被電感和變壓器體積卡住。
圖片來源:GlobalFoundries | SUMMIT硅基薄膜磁件的RDL式結(jié)構(gòu)、磁芯和厚銅繞組
GF給出了Single Inductor的案例說明:電感值、飽和電流、直流電阻和50MHz附近的Q值區(qū)間,說明這種薄膜磁件不是概念結(jié)構(gòu),而是已經(jīng)能落到具體電參數(shù)上。其中耦合電感數(shù)據(jù),才是在這個(gè)基礎(chǔ)上進(jìn)一步看更高電流能力和低直流電阻。

圖片來源:GlobalFoundries | SUMMIT單電感樣例:尺寸、8.5nH電感、2.4A飽和電流和Q值表現(xiàn)
耦合電感數(shù)據(jù)顯示,把目標(biāo)進(jìn)一步推向低RDC和差分偏置下的高電流能力。對(duì)近芯供電來說,這類磁件真正解決的是:高頻開關(guān)已經(jīng)可以做小,能量存儲(chǔ)和電流紋波處理也必須跟著變薄、變低阻、變得可集成。
六、給我們的啟示:垂直供電不是器件清單,而是制程棧協(xié)同
最后總結(jié)下。
AI數(shù)據(jù)中心供電的下一輪競(jìng)爭(zhēng),不會(huì)只發(fā)生在某一個(gè)FET、某一個(gè)電容或某一個(gè)電感上,而會(huì)發(fā)生在制程棧如何協(xié)同:
低壓側(cè)需要BCD和FinFET接住高電流密度與近芯調(diào)壓;
高壓側(cè)需要GaN提高轉(zhuǎn)換頻率;
磁件側(cè)需要SUMMIT這類薄膜集成能力把高頻收益真正轉(zhuǎn)化為體積收益。
這也是為什么我們把GF的四個(gè)產(chǎn)品放一起來料:BCD、FinFET、GaN和集成電感并不是并列展示的產(chǎn)品,而是數(shù)據(jù)中心供電從機(jī)架下沉到封裝/芯片近端時(shí),分層接力的四類能力。
換句話說,AI近芯供電的競(jìng)爭(zhēng),會(huì)從模塊參數(shù)轉(zhuǎn)向工藝棧協(xié)同。誰能把BCD、FinFET、GaN、電容、磁件和封裝垂直路徑放到同一套PDN里,誰才更接近可量產(chǎn)的高密度供電。

圖片來源:GlobalFoundries | 耦合電感在低直流電阻和差分偏置下的高電流能力
?? SysPro總結(jié)
GF這條路線的價(jià)值,是把AI數(shù)據(jù)中心垂直供電拆成不同電壓層級(jí)的工藝匹配問題。55BCD、FinFET、GaN和薄膜磁件不是彼此替代,而是分別服務(wù)于5V-8V、2V、48V/高壓和高頻無源集成,最終共同支撐低Z高度IVR。

?? 本文關(guān)鍵參數(shù)速查
本篇為主題《AI數(shù)據(jù)中心供電_硅工藝與制程集成支持垂直供電》學(xué)習(xí)總結(jié),完整參考資料與擴(kuò)展筆記已整理在「SysPro電力電子技術(shù)」知識(shí)星球中。
完整內(nèi)容聚焦:垂直供電、55BCD、FinFET IVR、GaN中間母線、SUMMIT薄膜磁件、TSV、MIM電容、低Z高度電源



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