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在電子產(chǎn)品測試日益復(fù)雜、節(jié)奏不斷加快的背景下,傳統(tǒng)測試方式已難以滿足效率與質(zhì)量要求。本次演講將聚焦NI PXI平臺與軟件工具鏈,系統(tǒng)解析如何從交互式測量快速演進到自動化、并行測試,通過真實案例與演示,展示如何顯著縮短測試時間、提升測試效率,加速產(chǎn)品驗證與量產(chǎn)落地。更有性能不負眾望,價格超乎想象的PXI新產(chǎn)品(>>查看更多),包含全新機箱、控制器、示波器、數(shù)據(jù)采集卡等。
直播時間:3 月 31 日(周二)上午 10:00
直播主題:借助PXI與NI LabVIEW+ 套件加速電子產(chǎn)品自動化測試
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直播獎品:

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2、直播結(jié)束后2周內(nèi),EEWorld 將在【論壇頒獎區(qū)】公布獲獎名單,并以郵件形式通知獲獎用戶,獎品領(lǐng)取后的15個工作日左右由 EEWorld 郵寄。
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